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SMU 仪器 2606B 系统源表
发布时间:2019-12-02 16:33:19

       2606B 系统源表源测量单元(SMU) 仪器在一个外形1U 高的机箱中集成了四个20W SMU 通道。2606B 基于吉时利第三代SMU 技术,在一台紧密集成的仪器中, 同时融合了精密电源、真实电流源、6 位半DMM、任 意波形发生器和脉冲发生器的功能。其提供了强大的 解决方案,明显提升了测试效率,可以满足苛刻的光 电器件自动检定和生产测试需求,比如3D 传感和光通 信中使用的VCSEL/ 激光二极管、消费品和汽车中使用 的LED 以及模拟IC、ASIC 和片上系统(SOC) 器件等 集成器件。

       在要求高SMU 通道数时,多台2606B 仪 器可以相互堆叠,在仪器之间不需要散热空间。基于网络浏览器的内置软件可以通过任何电脑,从世界上 任何地方与2606B 通信。对自动系统应用,2606B 的 测试脚本处理器(TSP®) 技术从仪器内部运行整个测试 程序,实现业内最好的吞吐量。在大型多通道应用中, 吉时利的TSP-Link® 技术与TSP 技术相结合,实现了 高速SMU-per-pin 并行测试。在使用于新应用时, 每台2606B SMU 的代码都能兼容行业领先的Keithley 2602B 系统源表SMU 仪器。


主要特点:


  • 在一个 1U全机架机箱中实现 4 通道 SMU 仪器

  • 可堆叠,仪器之间没有 1U间隔要求

  • 紧密集成的电压/电流源和测量仪器,6位半分辨率,提供同类最佳的性能

  • 20 V @ 1 A 和 6 V @ 3 A 功率包络,20 W

  • 0.015% DCV基本准确度

  • 高达 28个开路漏极数字 I/O 口

  • 测试结果与 2602B系统源表 SMU 仪器一致

  • TSP 技术把整个测试程序嵌入仪器内部,实现了同类最佳的系统级吞吐量

  • TSP-Link扩展技术,实现多通道并行测试,无需主机

  • 前面板LAN (LXI-C)、USB 2.0 TMC488协议和数字I/O 接口

  • 基于网络浏览器的内置软件,通过任何浏览器,从世界上任何地方任何电脑实现远程控制

TSP 技术,实现自动测试及无可比拟的吞吐量


对需要最高程度的自动化和吞吐量的测试应用,2606B 的TSP 技术提供了业界最好的性能。TSP 技术远远 超越传统测试命令序列,它把整个测试程序全面嵌入 SMU 仪器中,然后从SMU 仪器内部执行整个测试程序。这几乎消除了总线与PC 控制器之间耗时的通信,从而 明显改善了整个测试时间。

TSP 技术从2606B 非易失性内存中执行整个测试程序。


TSP-Link 技术,SMU-per-pin 并行测试


TSP-Link 是一种通道扩展总线,可以让多台Series 2606B 实现互连,或与支持TSP 的其他吉时利仪器连接起来,作为 一个紧密同步的多通道系统操作。2606B 的TSP-Link 技术 与其TSP 技术一起运行,支持高速SMU-per-pin 并行测试。与其他高速解决方案(如大型ATE 系统)不同,2606B 实现 了并行测试性能,而没有主机的成本或负担。基于TSP-Link 的系统还实现了杰出的灵活性,在测试要求变化时可以快速 简便地重新配置系统。


TSP-Link 系统中的所有通道均同步到500 ns 以下。

采用TSP 和TSP-Link 技术执行SMU-per-pin 并行或多管 脚器件测试,改善测试吞吐量,降低测试成本。


典型应用

对各种器件进行I-V 功能测试和表征,包括:

  • 光电器件
    - 垂直腔表面发射激光器(VCSELs),激光二极管( 用于3D 传感系统上)
    - 高亮度(HBLEDs), 发光二极管(LEDs)
    - 显示器

  • 集成器件,小规模集成 (SSI) 和大规模集成(LSI)
    - 模拟ICs
    - 射频集成电路(RFICs)
    - 特定应用集成电路(ASICs)
    - 片上系统(SOC) 器件

  • 分立器件和无源器件
    -两端口传感器,磁盘头,金属氧化 压敏电阻 (MOVs),二极管,齐纳二 极管,传感器,电容器,热阻器
    - 三端口小信号双极晶体管 (BJTs), 场效晶体管 (FETs) 等等

  • 简单的ICs光器件,驱动器,开关, 传感器,转换器,稳压器                                                                                                                                                                                                                                                                                                             

2606B SMU 仪器可以简便地安放和堆叠在机架系统中,轨道 最小深度仅27 英寸(0.686 米)。

第三代SMU 仪器设计,确保更快的测试时间


在Series 2600B 仪器经过验证的架构基础上,2606B 的 SMU 仪器设计通过多种方式加强了测试速度。例如,2606B 采用已获专利的系列量程拓扑,提供更快、更平滑的范围变 化和输出,其稳定速度要更快。
2606B SMU 仪器设计支持两种运行模式,可以用于各种负载。在正常模式下,SMU 仪器提供了高带宽性能,实现最大吞吐 量。在高电容(high-C) 模式下,SMU 仪器采用较慢的带宽, 提供强健的性能及更高的容性负载。

 
 
 
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